原厂入驻New

即将举办 >研讨会

研讨会内容介绍

电子产品在芯片性能分析、产品研发、性能测试,以及工艺分析时,热分析是必不可少的环节,红外热像仪是如何帮助工程师解决类似棘手问题。

本次研讨会为您带来福禄克在线热像仪的干货分享:
1、现场温度测试面临哪些挑战;
2、如何在生产及品质监控过程中进行温度场测试;
3、实例分享温度数据实时获取、分析、处理方法;
4、如何快速获取现场红外图像数据;
5、红外热像仪如何助您提高产品质量,降低人工成本,完善工艺流程。

准备好了吗?精彩不容错过,敬请期待!

我要提问 (问题描述150个字以内)
  • 提前报道
  • 想要学习
  • 有一点难
  • 还蛮实用

提交

已提交的问题(共47个预先提问)

  • 2018-07-25 11:07:56

    武林客栈小宁儿这个内容好,来学习学习。(2)
  • 2018-07-24 16:16:22

    yu309262908有没有比较简便的温度分析方法(点赞)
  • 2018-07-24 16:15:54

    yu309262908缺啥来啥,内心有点小激动呢,收着,坐等答疑。(点赞)
  • 2018-07-24 09:31:20

    jwdxu2009主要看性价比(点赞)
  • 2018-07-21 07:42:47

    LordOfRing1、我手头有一款福禄克热成像仪,貌似分辨率不够 2、是否可以录制视频? 3、能否手工调焦?(点赞)
  • 2018-07-20 16:17:36

    yinwuqing就是想要来瞅瞅~(1)
  • 2018-07-18 19:51:35

    li_wm温度数据实时获取、分析、处理方法,红外图像自动处理。(点赞)
2/2 页 上一页 12

研讨会日历

<< < 2024年3月 > >>
12
3456789
10111213141516
17181920212223
24252627282930
31
* 本月有6场研讨会

听众参与直播电脑最低要求

  • 操作系统:windows xp
  • 浏览器:IE 6.0 ; firefox 3.0 ; Chrome 29.0
  • 屏幕分辨率:1024*768
  • 网速要求:500 kbps 或者更高