关键词：物联网（IoT）测试，低功耗测试，半导体芯片测试，小电流测试

物联网设备在智能穿戴、医疗电子、智能家居和智能机器等各个方面的应用越来越广。一些物联网设备由于体积小，电池容量小，因此电池的续航时间问题变得尤为突出，如NB-IoT设备需要电池续航时间长达10年之久。与之相关的传感器，存储器，MCU芯片和电源管理模块的小电流测试成为研发工程师非常棘手的问题。

本次研讨会将会与大家一起讨论小电流和低功耗测试的重要性及其挑战，并结合是德科技电流波形分析仪CX3300的实测案例帮助您分析在小电流测试过程中需要注意的一些问题。如果您正在从事有关智能穿戴设备，MCU，传感器或电源管理电路的开发和测试，请不要错过本次技术研讨会。

本次研讨会内容覆盖：
- 小电流（低功耗）测试的重要性及其挑战
- 是德科技小电流测试解决方案CX3300
- 小电流（低功耗）测试案例分享