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加速半导体创新:从IC设计到最终测试验证

2026-10-13 14:00:00 • Gobinath Tamil Vanan

研讨会内容介绍

AI、数据中心、高速通信以及先进封装等应用快速发展,半导体器件正变得越来越复杂。与此同时,工程团队面临着更短的产品周期、更高的性能要求,以及更加严苛的验证与可靠性挑战。

· 如何让设计更快落地?
· 如何缩短从第一次流片到量产的验证周期?
· 如何让每一次测量都真正成为可靠的工程决策依据?

本期线上研讨会,将从半导体开发全生命周期出发,深入探讨如何通过仿真、精密测量、自动化测试与数据分析,建立更加连贯、高效的验证工作流。

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已提交的问题(共4个预先提问)

  • 2026-09-29 10:47:27

    linghz:这个内容好,来学习学习。(点赞)
  • 2026-09-28 11:15:39

    l64481000:最终测试过程中,测量数据是如何真正支撑工程决策?(点赞)
  • 2026-09-28 11:15:19

    l64481000:自动化测试能融入这个周期吗?(点赞)
  • 2026-09-28 11:14:56

    l64481000:流片到量产的验证瓶颈在哪里?一般需要多久的周期(点赞)
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研讨会日历

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