原厂入驻New

已经举办 >研讨会

半导体参数测试仪及源表校准方案探讨

2026-07-29 10:00:00 至 11:30:00   •杨胜利  •18480次浏览

相关资料下载

研讨会介绍

研讨会亮点:

1.半导体测试的基础知识
2.半导体参数测试仪及源表的性能一览
3.相关校准规范解读
4.福禄克解决方案探讨及校准实操


演讲人

杨胜利•福禄克计量校准部电学产品经理

国电磁计量技术委员会委员
中国计量测试学会电子计量专业委员会委员
全国测量不确定度委员会应用工作组组员

幸运奖品

参会并积极互动,将有机会获得精美礼品。

中奖用户如下
C TO C数据线:
denyuiwen,jf_73310188,jf_69233216,jf_14860792,jf_92974011

四合一双头分线器:
jf_39925752,沈卫民,jf_40342711

GaN充电器:
jf_18971739,阿赞88,kkforyou

公司介绍

福禄克计量校准部(Fluke Calibration),涉及电学、射频、温度、压力、流量、湿度等精密测量计量校准领域。在这些领域我们可以提供范围广泛的校准器、标准器、软件、技术支持以及培训。福禄克以生产准确、可靠的产品,帮助您完成更多、更有效率的工作而自豪。福禄克的产品由具有多年经验的校准专家设计、测试和制造,并始终优于其技术参数。多年的始终如一,铸就了福禄克精准耐用的行业口碑,全方位服务您的计量校准工作。

研讨会日历

<< < 2026年9月 > >>
12345
6789101112
13141516171819
20212223242526
27282930
* 本月有4场研讨会

听众参与直播电脑最低要求

  • 操作系统:windows xp
  • 浏览器:IE 6.0 ; firefox 3.0 ; Chrome 29.0
  • 屏幕分辨率:1024*768
  • 网速要求:500 kbps 或者更高

关注微信服务号,开启提醒

直播开始时将通过服务号通知

×