2026-10-13 13:50:48

efans_faa: 从设计到流片都能进行功能测试吗？

答：功能性测试一般在封装之后进行

2026-10-13 13:52:38

efans_faa: 这些测试，是德能提供测试治具吗？

答：某些夹具可以一并提供

2026-10-13 13:55:19

hghee: IC测试通用吗

答：不同IC种类的测试一般不通用

2026-10-13 13:56:29

efans_faa: 整个测试系统输入信号有提供吗？没有输入怎么测试呢？

答：视频中介绍的三个方案都有信号输入

2026-10-13 14:04:44

efans_faa: 芯片需要留测试点吗？管脚很密的芯片一定是要精密的测试治具吗？开发者能自行开发测试治具吗？是德提供的测试治具是否需要收费？

答：开发者可以自己开发治具，之后结合是德科技仪表进行测量

2026-10-13 14:06:33

efans_faa: 在芯片设计阶段，是德能做那些测试？还是要等芯片已经封装好后才能进行测试？

答：是德科技提供多种EDA软件助力芯片设计，同时也提供测量仪表进行实测

2026-10-13 14:10:42

l64481000: 自动化测试能融入这个周期吗？

答：自动化测试可以融入这个周期并起到很大帮助作用

2026-10-13 14:20:20

老苞谷: 请问这个Integrated RF amplifier design workflow中，从Device Characterization（器件表征）到Build RF Amplifier这一步，是支持直接导入实测的S参数文件，还是必须依赖厂商提供的模型？

答：针对foundry流片，会需要厂商模型

2026-10-13 14:19:24

chengfgc: 这一套测试有哪些应用案例？

答：针对高校半导体人才培养，是德科技推出了UU101LAB, UU102LAB和UU103LAB三个教学方案。

2026-10-13 14:19:32

efans_faa: 设计过程我怎么知道我的放大器偏置是否正确？如果零漂大，测试系统能告诉是什么原因吗？

答：偏置会根据仿真出来的IV曲线确定工作点

2026-10-13 14:28:35

yuanyufang: UU101LAB, UU102LAB和UU103LAB三个教学方案的差异点是？

答：UU101LAB内容更基础，UU102LAB会结合探针台，UU103LAB针对光芯片和探针台

2026-10-13 14:34:05

老苞谷: 现在的半导体工艺迭代很快，请问是德科技的这个设计工作流，对于第三代半导体（如GaN、SiC）的射频应用有哪些特别的优化或支持吗？

答：针对第三代半导体，高功率或者射频应用，是德科技提供相应测试方案。具体应用可以在官网找到更多信息。

2026-10-13 14:47:39

jf_67374834: 测试方案一般如何保证测试结果的重复性？

答：好的重复性依赖于很多因素。正确的测试架构能尽可能加强测试重复性。

2026-10-13 14:47:50

jinqiang_he: 第三个光学PIC量产如何自动化？

答：UU103LAB是针对高校的教学方案。业界会结合半自动或全自动探针台加速量产。

2026-10-13 14:50:47

efans_faa: AI芯片的测试模型与普通芯片的测试模型一样吗？

答：芯片的应用不同测试的方法会不同

2026-10-13 14:55:32

efans_faa: GAN芯片是德有测试方案吗？输入220V能进行测试吗？

答：针对GaN器件的参数测试，是德科技可以提供静态测试和动态测试，激励电压可以远高于220V

2026-10-13 14:56:15

szhangbo: 针对IC设计测试 是德有哪些解决方案

答：针对设计，是德科技提供多种EDA工具；针对测试，是德科技提供覆盖广泛的仪表和整体方案。

2026-10-13 14:56:58

efans_faa: 是德芯片测试系统能完成所有芯片基本功能测试吗？

答：不同芯片所需的测试系统不同。是德科技提供覆盖广泛的测试仪表及方案，助力用户加速产品创新。

2026-10-13 15:00:48

kkforyou: 如何缩小仿真与实测数据偏差？

答：使用测量校准过的模型进行仿真，能使仿真更贴近真实器件数据

2026-10-13 15:09:13

kaokaohe: 三极管的测试是不是比mosfet要简单？

答：这两者工作方式不一样，一个是电流控制，一个是电压控制