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在过去半个世纪摩尔定律已经被验证，集成电路中的晶体管数量，每两年增加一倍。预计在今后也至少每三年翻一倍，随着集成电路（Integrated Circuit 简称 IC）外形尺寸缩小，几乎所有的指标都需要改善单位成本，并降低开关功率消耗，速度提高。集成纳米级别设备的IC也存在问题，主要是泄漏电流（leakage current）。因此，对于最终用户的速度和功率消耗增加非常明显，制造商面临更多尖锐挑战。泰克作为测试测量行业的领导者，面对这些问题，从不同应用角度提出了解决方案。
本期研讨会亮点：
1、IC 的设计及DC特性测试
2、DC特性测试及其他应用
3、八招助您提高测试精度
4、IC 设计的I/V测量
5、IC 的DC直流特性测量
6、源测量单元(SMU): 简化的I-V特性分析和测试
7、DC到DC转换器测试
8、电池充电/放电测试
本次中奖用户：
xueweimin, nxdzs, jianghotao12345, 18792565499, gaon
我们平常在测试测量中遇到的大多数信号都是一些百毫伏或者伏级的信号，这些信号都很好捕获和分析，但是很多工程师在碰到的毫伏和微伏级的信号或者在测量分析大信号上面叠加的小信号时就会显得束手无策，比如在一些开关管的导通时候的导通电压，还比如一些微弱的传感器信号，今天我们将借这次研讨会给大家介绍几种利用示波器来进行微弱信号的观察和分析的方法。
本期中奖用户：
sss3226101，lalala123456789，flowtcw，Robert331，sunyu1992114，junwu_no，wulana，ttkxabc，流逝的岁月，myqthj
EMI测试是电子产品设计中不可回避的，但又是价格高昂的测试。EMI诊断可以让产品设计者在进行高昂的EMI测试前解决问题。对没有通过EMI测试的产品，EMI诊断是查找故障源头的手段。泰克新近推出高性价比实时频谱仪RSA306，为广大电子产品设计者提供了高性价比的EMI诊断的工具。此外，泰克MDO系列混合域分析仪及高端台式实时频谱仪在EMI测试领域都有独到之处，可以快速发现EMI问题，定位EMI源头。本次网络研讨会将介绍EMI测试的基本方法及泰克测试方案。
本次研讨会您将学习到：
1、EMI测试的基本方法
2、EMI测试最佳解决方案
3、EMI测试问题判断与对策
4、如何使用实时频谱仪发现瞬态EMI问题？
5、案例分析：如何利用MDO诊断无线POS机EDI问题?
6、案例分析：如何利用MDO测试开关电源引起的EMI问题
7、泰克测试方案案例分享
本期中奖中户：
东野狼、凤凰息梧桐、Herbiev5、lonjaych、pfxqla1、eyesee、zrk787、红运到来、ligang126、阿登省
请中奖用户3天内把您的姓名+电话号码+邮箱+电子发烧友账号+详细地址 发送至 qianshanshan@elecfans.com
泰克射频创新解决方案 - 无线通信和视频无处不在，提高能效和更高带宽的要求带来了对RF测试测量解决方案需求的持续增长。泰克推出创新型RF解决方案完善了泰克其领先的RF产品系列，为您在教育、预算紧张的研发、消费电子制造、商业领域、收发机测试等各个应用领域提供强大的助力。
本次研讨会主要讲解：
> 泰克射频测试发展历程
> 为您讲解泰克射频最新创新解决方案
> 泰克实时频谱分析技术在工业4.0时代干扰测试的应用及详细案例
> 提高IPO指标的最佳方法是什么？
> 如何提高发现偶发信号的概率？
> 如何快速便捷的区分同频不同概率的信号？
中奖用户：（请中奖用户7月29日之前把姓名+电话号码+邮箱+详细地址+发烧友用户发送至：qianshanshan@elecfans.com）
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随着开关电源技术的发展，大功率开关的大规模使用，电源一些关键指标的准确评价越来越困难，例如纹波越来越小，使用什么工具什么方法能准确评价？如何能精确测试很小的待机功耗，甚至零功耗。今天为大家介绍电源关键参数的测试工具和方法。
本次研讨会主要讲解：
1、如何提高电源效率？通过哪些方法改善电源效率？
2、为什么您的客户关注功率效率？
3、如何能精确测试很小的待机功耗，甚至零功耗
4、如何改善功率测量精度和可重复性
5、DC到DC转换器效率测量实际案例介绍
6、纹波越来越小，使用什么方法或者工具来准确评价？
7、LED照明测试：DC输出纹波电压测量、驱动脉冲测量
8、电源关键参数的测试工具和方法
中奖名单：U盘
CJTHZ、lemontree305、凤凰息梧桐、wzsmzl、liqian10_25、tengtuchenyi、张鋆、gendou、rosalv、wzhg329
本期研讨会主要围绕:
大功率高亮度发光二极管测试的特点及所面临的挑战展开讨论, 帮助您应对HBLED电气测试挑战，优化特性分析和测试，降低测试成本，提高产品良率。
通过参加此研讨会,您将了解和理解：
> LED自发热效应以及如何避免自发热效应
> 如何花费更少的时间与资源开发测试系统
> 如何提高测试速度快速完成VF, VR和IL等典型参数测试
> 如何降低电源噪声、测量噪声等系统噪声的影响
> 如何降低投资成本
> 如何进行结温测试
> 其他LED测试解决方案,如LED并行测试，生产测试等
中奖名单
MyGrow、lifugan、枫之精、龙舞醇香、风云12345、stu_deepblue、zhangjsh、linghz、yefengling、cxj8586、ezcui、dongdeisheqi、一九八八、ling200602
、mylxc60、zsd1107、maoshen、pingpindandan、pj4276、wq1134404729wq
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