数字化时代下，互联网+、工业4.0、高端芯片研发、数据中心互联、5G无线通信、物联网技术等均是国家和行业政策发力的重要方向，这对测试测量行业也提出了极高的要求。2GHz带宽示波器究竟能为数字化浪潮中的电子工程师带来哪些可能性？宽范围大功率直流电源的性能及效率怎样才能满足新能源、航空航天、教育科研等行业技术的快速发展？
普源精电（RIGOL）在线研讨会将给你答案。

本次直播将进行示波器与大功率电源的实测与互动，倾听RIGOL工程师现场讲解操作问题与解决方案，掌握最新的技术和应用，探索行业发展趋势，获得更多深入见解，为电子测试测量行业注入全新的活力！

随着物联网(IoT)的快速普及，基于物联网位置服务的相关技术也不断推出，以提供各种室外或室内的位置服务，如智慧工厂、智慧物流、医疗监控、监狱管理等。

那么都有哪些物联网定位技术？这些物联网定位技术之间有什么差异？如何保证物联网定位技术的准确？
欢迎您参加本次在线研讨会一探究竟！

在本次研讨会中，我们将介绍：
• 传统的定位技术
• 主要的物联网定位技术
• 是德科技物联网测试方案

电子产品集成度越来越高，功耗控制和散热分析挑战也越来越高。可视化的快速完成热分析，在产品研发生产中尤为重要。

本次研讨会将着重介绍行业头部企业的研发视角、遇到的问题及解决方案。

参加研讨会，您将了解：
1、微小目标热分析要点及解决方案
2、热趋势分析要点及解决方案
3、长时间在线监控方案

电子产品在芯片性能分析、产品研发、性能测试，以及工艺分析时，热分析是必不可少的环节，红外热像仪是如何帮助工程师解决类似棘手问题。

本次研讨会为您带来福禄克在线热像仪的干货分享：
1、现场温度测试面临哪些挑战；
2、如何在生产及品质监控过程中进行温度场测试；
3、实例分享温度数据实时获取、分析、处理方法；
4、如何快速获取现场红外图像数据；
5、红外热像仪如何助您提高产品质量，降低人工成本，完善工艺流程。

准备好了吗？精彩不容错过，敬请期待！

在电子测试中，红外热像作为新一代的温度检测手段已被广泛接受，但是在具体的使用中，如何能够检测微米级的目标？检测范围是多大的？检测距离不够怎么办？目标是金属材料会不会影响测温准确性？现场光线会不会对测温有干扰？
本次技术交流会中，专家会就上述问题逐一解答，帮助您更好地使用红外热像这一利器。

Type-C 接口以其小巧和支持正反插的优点正在快速的统一消费类电子行业的接口市场，从最初的支持USB总线，到 Alt Mode 广泛支持 Thunderbolt，以及 HDMI 1.4b，DisplayPort 等接口显示技术正成为主流机械接口，是近3年来工程师和电子发烧友口中最热门的词汇之一。
显示接口是消费电子行业仅次于存储接口的第二大接口，涉及的产品和公司之多也非常惊人，因此接口的一致性测试必然成为一个无法回避的命题。
本次研讨会将专门就当下两种主流的 HDMI 和 DP 显示标准 Type-C 接口的一致性测试做一详细介绍。特别地，本次研讨会专门邀请 HDMI ATC（授权认证测试中心）Simplay Labs 的马伟华经理就 HDMI over Type-C 的测试技术作一专业介绍。

随着医疗行业的飞速发展，各种医疗影像设备在临床诊断中的应用越来越广。作为人口大国，我国的医疗影像市场潜力巨大。长期以来，我国的医疗影像设备多以进口为主。如何研发出高端的医疗影像设备是摆在本土企业面前的巨大挑战。在研发过程中，如何对医疗影像设备的关键组件及高速数字接口进行测试更是挑战中的挑战。

本次研讨会将主要介绍医疗影像设备关键组件和高速数字接口的相关测试以及是德科技的解决方案。无论您关注的是MRI，CT，还是超声影像，无论是MRI的各种线圈性能，还是图形工作站的高速数字接口一致性或其它医疗电子设备的测试，请不要错过本次研讨会。

在这里，您将学习并了解：
• 医疗影像设备关键组件及高速接口测试的内容
• 是德科技相关的测试解决方案

评估高速串行总线的信号质量时，抖动参数是必不可少的，抖动值也让你对传输链路可能的误码率有一个直观的感觉，你要确保抖动分量测量值的准确性，必须考虑接收端的时钟恢复、锁相环带宽、抖动分离技术、串扰效应等因素，这是一个复杂的过程，尤其是实际的被测对象有各种各样的挑战。本次研讨会是针对使用实时示波器进行抖动测量的工程师的，我们会分享高级抖动测量的各种细节，让您在做抖动分量测量时，有更强的信心。

本次研讨会主要讲解：
1、抖动分量介绍
2、分析时的假设和局限性
3、两种方法：谱分析和尾部拟合
4、串扰移除工具的使用
5、移除示波器带来的随机抖动

您是否在使用红外热像仪的过程中，遇到过类似这样的问题：如何把温度测得更准确？对于特殊现场和分析需求有哪些解决方案呢？对连续温度变化的目标该如何进行分析？

福禄克(Fluke)高级技术顾问沈建祥先生,将在本次研讨会集中讲解红外热像仪使用过程中的常见问题，分享红外热像仪实用操作技巧，让您真正用好热像仪！

所有参会者还可免费获赠福禄克精心编制的《红外热像实用宝典》，涵盖如下内容：如何选择适合的对焦方式；适当虚化前景，防止遮挡；准确测温 热像仪的开机预热时间；避免阳光的反射干扰；避免阳光的直射干扰；来自天空的陷阱；热像仪可以检测多大的范围；避免高温目标损伤热像仪；发射率如何设置；如何选择调色板；如何有效使用热像仪完成设备预测性维护工作；运动目标可以检测吗；如何检测空间温度分布；提升小温差热像图的清晰度；没有微距镜头热像仪可以测多小。

《红外热像实用宝典》免费下载：http://www.elecfans.com/soft/32/2016/20160429416379.html

此外，报名此次研讨会，您还有机会获得由Fluke 提供的精美礼品！


本期中奖用户：
Fluke 试电笔 共 3 名
seu_xbw, 守敬故里, zsd1107

乐扣保温杯 共 7 名
jinlai888, junwu_no, niuniu318, linghz, myj1989221, zhengzhirui, 莱茵河

在过去半个世纪摩尔定律已经被验证，集成电路中的晶体管数量，每两年增加一倍。预计在今后也至少每三年翻一倍，随着集成电路（Integrated Circuit 简称 IC）外形尺寸缩小，几乎所有的指标都需要改善单位成本，并降低开关功率消耗，速度提高。集成纳米级别设备的IC也存在问题，主要是泄漏电流（leakage current）。因此，对于最终用户的速度和功率消耗增加非常明显，制造商面临更多尖锐挑战。泰克作为测试测量行业的领导者，面对这些问题，从不同应用角度提出了解决方案。
本期研讨会亮点：
1、IC 的设计及DC特性测试
2、DC特性测试及其他应用
3、八招助您提高测试精度
4、IC 设计的I/V测量
5、IC 的DC直流特性测量
6、源测量单元(SMU): 简化的I-V特性分析和测试
7、DC到DC转换器测试
8、电池充电/放电测试


本次中奖用户：
xueweimin, nxdzs, jianghotao12345, 18792565499, gaon