电子产品在芯片性能分析、产品研发、性能测试，以及工艺分析时，热分析是必不可少的环节，红外热像仪是如何帮助工程师解决类似棘手问题。

本次研讨会为您带来福禄克在线热像仪的干货分享：
1、现场温度测试面临哪些挑战；
2、如何在生产及品质监控过程中进行温度场测试；
3、实例分享温度数据实时获取、分析、处理方法；
4、如何快速获取现场红外图像数据；
5、红外热像仪如何助您提高产品质量，降低人工成本，完善工艺流程。

准备好了吗？精彩不容错过，敬请期待！

在电子测试中，红外热像作为新一代的温度检测手段已被广泛接受，但是在具体的使用中，如何能够检测微米级的目标？检测范围是多大的？检测距离不够怎么办？目标是金属材料会不会影响测温准确性？现场光线会不会对测温有干扰？
本次技术交流会中，专家会就上述问题逐一解答，帮助您更好地使用红外热像这一利器。

Type-C 接口以其小巧和支持正反插的优点正在快速的统一消费类电子行业的接口市场，从最初的支持USB总线，到 Alt Mode 广泛支持 Thunderbolt，以及 HDMI 1.4b，DisplayPort 等接口显示技术正成为主流机械接口，是近3年来工程师和电子发烧友口中最热门的词汇之一。
显示接口是消费电子行业仅次于存储接口的第二大接口，涉及的产品和公司之多也非常惊人，因此接口的一致性测试必然成为一个无法回避的命题。
本次研讨会将专门就当下两种主流的 HDMI 和 DP 显示标准 Type-C 接口的一致性测试做一详细介绍。特别地，本次研讨会专门邀请 HDMI ATC（授权认证测试中心）Simplay Labs 的马伟华经理就 HDMI over Type-C 的测试技术作一专业介绍。

随着医疗行业的飞速发展，各种医疗影像设备在临床诊断中的应用越来越广。作为人口大国，我国的医疗影像市场潜力巨大。长期以来，我国的医疗影像设备多以进口为主。如何研发出高端的医疗影像设备是摆在本土企业面前的巨大挑战。在研发过程中，如何对医疗影像设备的关键组件及高速数字接口进行测试更是挑战中的挑战。

本次研讨会将主要介绍医疗影像设备关键组件和高速数字接口的相关测试以及是德科技的解决方案。无论您关注的是MRI，CT，还是超声影像，无论是MRI的各种线圈性能，还是图形工作站的高速数字接口一致性或其它医疗电子设备的测试，请不要错过本次研讨会。

在这里，您将学习并了解：
• 医疗影像设备关键组件及高速接口测试的内容
• 是德科技相关的测试解决方案

评估高速串行总线的信号质量时，抖动参数是必不可少的，抖动值也让你对传输链路可能的误码率有一个直观的感觉，你要确保抖动分量测量值的准确性，必须考虑接收端的时钟恢复、锁相环带宽、抖动分离技术、串扰效应等因素，这是一个复杂的过程，尤其是实际的被测对象有各种各样的挑战。本次研讨会是针对使用实时示波器进行抖动测量的工程师的，我们会分享高级抖动测量的各种细节，让您在做抖动分量测量时，有更强的信心。

本次研讨会主要讲解：
1、抖动分量介绍
2、分析时的假设和局限性
3、两种方法：谱分析和尾部拟合
4、串扰移除工具的使用
5、移除示波器带来的随机抖动

您是否在使用红外热像仪的过程中，遇到过类似这样的问题：如何把温度测得更准确？对于特殊现场和分析需求有哪些解决方案呢？对连续温度变化的目标该如何进行分析？

福禄克(Fluke)高级技术顾问沈建祥先生,将在本次研讨会集中讲解红外热像仪使用过程中的常见问题，分享红外热像仪实用操作技巧，让您真正用好热像仪！

所有参会者还可免费获赠福禄克精心编制的《红外热像实用宝典》，涵盖如下内容：如何选择适合的对焦方式；适当虚化前景，防止遮挡；准确测温 热像仪的开机预热时间；避免阳光的反射干扰；避免阳光的直射干扰；来自天空的陷阱；热像仪可以检测多大的范围；避免高温目标损伤热像仪；发射率如何设置；如何选择调色板；如何有效使用热像仪完成设备预测性维护工作；运动目标可以检测吗；如何检测空间温度分布；提升小温差热像图的清晰度；没有微距镜头热像仪可以测多小。

《红外热像实用宝典》免费下载：http://www.elecfans.com/soft/32/2016/20160429416379.html

此外，报名此次研讨会，您还有机会获得由Fluke 提供的精美礼品！


本期中奖用户：
Fluke 试电笔 共 3 名
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乐扣保温杯 共 7 名
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在过去半个世纪摩尔定律已经被验证，集成电路中的晶体管数量，每两年增加一倍。预计在今后也至少每三年翻一倍，随着集成电路（Integrated Circuit 简称 IC）外形尺寸缩小，几乎所有的指标都需要改善单位成本，并降低开关功率消耗，速度提高。集成纳米级别设备的IC也存在问题，主要是泄漏电流（leakage current）。因此，对于最终用户的速度和功率消耗增加非常明显，制造商面临更多尖锐挑战。泰克作为测试测量行业的领导者，面对这些问题，从不同应用角度提出了解决方案。
本期研讨会亮点：
1、IC 的设计及DC特性测试
2、DC特性测试及其他应用
3、八招助您提高测试精度
4、IC 设计的I/V测量
5、IC 的DC直流特性测量
6、源测量单元(SMU): 简化的I-V特性分析和测试
7、DC到DC转换器测试
8、电池充电/放电测试


本次中奖用户：
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我们平常在测试测量中遇到的大多数信号都是一些百毫伏或者伏级的信号，这些信号都很好捕获和分析，但是很多工程师在碰到的毫伏和微伏级的信号或者在测量分析大信号上面叠加的小信号时就会显得束手无策，比如在一些开关管的导通时候的导通电压，还比如一些微弱的传感器信号，今天我们将借这次研讨会给大家介绍几种利用示波器来进行微弱信号的观察和分析的方法。
本期中奖用户：
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近日在上海举行的CES Asia上，一家知名厂商一口气展示了18款搭配有USB 3.1 Type-C接口的数码配件产品；其中的产品种类包括充电器、移动电源、数据线、USB扩展坞等，可以说是几乎涵盖了所有与USB接口相关的使用场景。这不禁让人联想到近半年来纷纷有诺基亚、苹果、谷歌等IT行业巨头已经开始在自家产品上搭载Type-C接口，并且将之作为一个重要的卖点和宣传点；甚至在Google I/O大会上，Google宣布Android M也将支持Type-C接口……这些不禁让我们思考，一个小小的接口为什么会引起这么多人的重视？眼前正在风生水起的Type-C接口究竟能否风行世界，并掀起一场改变整个行业数据接口的大潮流？
邀请您与大联大控股旗下的世平集团一同进入 TI_USB Type C 的深入旅程吧！

本次研讨会亮点：
1、为什么众多厂家纷纷涉足USB Type-C，USB Type-C是什么？
2、USB Type-C能做些什么？能解决哪些痛点？与USB2.0相比有哪些优势？
3、USB Type-C 的测试要点
4、德州仪器USB Type-C解决方案介绍

本期中奖用户：
平板电脑（蓝魔i11 Pro）1个：陌.
蓝牙防丢器10个：
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EMI测试是电子产品设计中不可回避的，但又是价格高昂的测试。EMI诊断可以让产品设计者在进行高昂的EMI测试前解决问题。对没有通过EMI测试的产品，EMI诊断是查找故障源头的手段。泰克新近推出高性价比实时频谱仪RSA306，为广大电子产品设计者提供了高性价比的EMI诊断的工具。此外，泰克MDO系列混合域分析仪及高端台式实时频谱仪在EMI测试领域都有独到之处，可以快速发现EMI问题，定位EMI源头。本次网络研讨会将介绍EMI测试的基本方法及泰克测试方案。

本次研讨会您将学习到：
1、EMI测试的基本方法
2、EMI测试最佳解决方案
3、EMI测试问题判断与对策
4、如何使用实时频谱仪发现瞬态EMI问题？
5、案例分析：如何利用MDO诊断无线POS机EDI问题?
6、案例分析：如何利用MDO测试开关电源引起的EMI问题
7、泰克测试方案案例分享

本期中奖中户：
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