在过去半个世纪摩尔定律已经被验证，集成电路中的晶体管数量，每两年增加一倍。预计在今后也至少每三年翻一倍，随着集成电路（Integrated Circuit 简称 IC）外形尺寸缩小，几乎所有的指标都需要改善单位成本，并降低开关功率消耗，速度提高。集成纳米级别设备的IC也存在问题，主要是泄漏电流（leakage current）。因此，对于最终用户的速度和功率消耗增加非常明显，制造商面临更多尖锐挑战。泰克作为测试测量行业的领导者，面对这些问题，从不同应用角度提出了解决方案。
本期研讨会亮点：
1、IC 的设计及DC特性测试
2、DC特性测试及其他应用
3、八招助您提高测试精度
4、IC 设计的I/V测量
5、IC 的DC直流特性测量
6、源测量单元(SMU): 简化的I-V特性分析和测试
7、DC到DC转换器测试
8、电池充电/放电测试


本次中奖用户：
xueweimin, nxdzs, jianghotao12345, 18792565499, gaon

本节课接上节，首先回顾物联网时代下产品开发和传统产品的不同，然后从产品开发的具体细节方面，分硬件设计、软件设计、知识体系、编程语言、操作系统等多个方面详细讲述，让大家明白为何传统的硬件单片机开发手段已经不能满足新时代的要求。

本节课主要讲解：
2.1、回顾：传统产品设计和物联网时代的产品设计区别
2.2、硬件设计的特征变化（案例：智能电视与传统电视机）
2.3、软件设计的特征变化（案例：车载导航设备的系统变迁）
2.4、知识体系的要求变化（案例：指纹锁）
2.5、编程语言的要求变化（案例：gcc和单片机C语言差异）
分享：
《一个单片机硬件旺的练成和关于学习C的重要性》http://www.openedv.com/posts/list/62727.htm

2.6、操作系统的要求变化（不是linux就是linux的徒子徒孙）

本系列公开课交流官方QQ群：517330262

本节课首先通过案例分析（而不仅是枯燥的概念阐述）来讲述什么是物联网，然后通过提炼和总结来逐一讲述物联网时代的产品特征，最后生成到技术层次，以产品功能为源头，抽丝剥茧，解析物联网时代对产品开发人员提出的新要求。

本节课主要讲解：
1.1、什么是物联网？概念+案例
1.1.1、智能电网行业解决方案的变迁
1.1.2、环境监测行业解决方案的新要求
1.1.3、注塑行业的工业4.0解决方案
1.2、物联网时代下的产品特征
1.2.1、【案例分析】要解决方案而不是单个产品
1.2.2、联网化、数据化
1.2.3、更快速迭代
1.3、物联网时代对开发者的三大要求
1.3.1、操作系统和协议栈变得更重要
1.3.2、开源社区更强大，gcc等使用更广泛
1.3.3、硬件渐趋标准化，产品的差异化在软件

我们平常在测试测量中遇到的大多数信号都是一些百毫伏或者伏级的信号，这些信号都很好捕获和分析，但是很多工程师在碰到的毫伏和微伏级的信号或者在测量分析大信号上面叠加的小信号时就会显得束手无策，比如在一些开关管的导通时候的导通电压，还比如一些微弱的传感器信号，今天我们将借这次研讨会给大家介绍几种利用示波器来进行微弱信号的观察和分析的方法。
本期中奖用户：
sss3226101，lalala123456789，flowtcw，Robert331，sunyu1992114，junwu_no，wulana，ttkxabc，流逝的岁月，myqthj

近日在上海举行的CES Asia上，一家知名厂商一口气展示了18款搭配有USB 3.1 Type-C接口的数码配件产品；其中的产品种类包括充电器、移动电源、数据线、USB扩展坞等，可以说是几乎涵盖了所有与USB接口相关的使用场景。这不禁让人联想到近半年来纷纷有诺基亚、苹果、谷歌等IT行业巨头已经开始在自家产品上搭载Type-C接口，并且将之作为一个重要的卖点和宣传点；甚至在Google I/O大会上，Google宣布Android M也将支持Type-C接口……这些不禁让我们思考，一个小小的接口为什么会引起这么多人的重视？眼前正在风生水起的Type-C接口究竟能否风行世界，并掀起一场改变整个行业数据接口的大潮流？
邀请您与大联大控股旗下的世平集团一同进入 TI_USB Type C 的深入旅程吧！

本次研讨会亮点：
1、为什么众多厂家纷纷涉足USB Type-C，USB Type-C是什么？
2、USB Type-C能做些什么？能解决哪些痛点？与USB2.0相比有哪些优势？
3、USB Type-C 的测试要点
4、德州仪器USB Type-C解决方案介绍

本期中奖用户：
平板电脑（蓝魔i11 Pro）1个：陌.
蓝牙防丢器10个：
smartlu80、sunxtao、776995799、ttkxabc、Mrsonl、weijinke、b309623991、Neo_Ye_Hy、tgxzer、skyfly2014

请中奖用户3天内把您的姓名+电话号码+邮箱+详细地址+电子发烧友账号发送至：qianshanshan@elecfans.com

EMI测试是电子产品设计中不可回避的，但又是价格高昂的测试。EMI诊断可以让产品设计者在进行高昂的EMI测试前解决问题。对没有通过EMI测试的产品，EMI诊断是查找故障源头的手段。泰克新近推出高性价比实时频谱仪RSA306，为广大电子产品设计者提供了高性价比的EMI诊断的工具。此外，泰克MDO系列混合域分析仪及高端台式实时频谱仪在EMI测试领域都有独到之处，可以快速发现EMI问题，定位EMI源头。本次网络研讨会将介绍EMI测试的基本方法及泰克测试方案。

本次研讨会您将学习到：
1、EMI测试的基本方法
2、EMI测试最佳解决方案
3、EMI测试问题判断与对策
4、如何使用实时频谱仪发现瞬态EMI问题？
5、案例分析：如何利用MDO诊断无线POS机EDI问题?
6、案例分析：如何利用MDO测试开关电源引起的EMI问题
7、泰克测试方案案例分享

本期中奖中户：
东野狼、凤凰息梧桐、Herbiev5、lonjaych、pfxqla1、eyesee、zrk787、红运到来、ligang126、阿登省

请中奖用户3天内把您的姓名+电话号码+邮箱+电子发烧友账号+详细地址 发送至 qianshanshan@elecfans.com

泰克射频创新解决方案 - 无线通信和视频无处不在，提高能效和更高带宽的要求带来了对RF测试测量解决方案需求的持续增长。泰克推出创新型RF解决方案完善了泰克其领先的RF产品系列，为您在教育、预算紧张的研发、消费电子制造、商业领域、收发机测试等各个应用领域提供强大的助力。

本次研讨会主要讲解：
> 泰克射频测试发展历程
> 为您讲解泰克射频最新创新解决方案
> 泰克实时频谱分析技术在工业4.0时代干扰测试的应用及详细案例
> 提高IPO指标的最佳方法是什么？
> 如何提高发现偶发信号的概率？
> 如何快速便捷的区分同频不同概率的信号？

中奖用户：（请中奖用户7月29日之前把姓名+电话号码+邮箱+详细地址+发烧友用户发送至：qianshanshan@elecfans.com）
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随着开关电源技术的发展，大功率开关的大规模使用，电源一些关键指标的准确评价越来越困难，例如纹波越来越小，使用什么工具什么方法能准确评价？如何能精确测试很小的待机功耗，甚至零功耗。今天为大家介绍电源关键参数的测试工具和方法。

本次研讨会主要讲解：
1、如何提高电源效率？通过哪些方法改善电源效率？
2、为什么您的客户关注功率效率？
3、如何能精确测试很小的待机功耗，甚至零功耗
4、如何改善功率测量精度和可重复性
5、DC到DC转换器效率测量实际案例介绍
6、纹波越来越小，使用什么方法或者工具来准确评价？
7、LED照明测试：DC输出纹波电压测量、驱动脉冲测量
8、电源关键参数的测试工具和方法
中奖名单：U盘
CJTHZ、lemontree305、凤凰息梧桐、wzsmzl、liqian10_25、tengtuchenyi、张鋆、gendou、rosalv、wzhg329

本期研讨会主要围绕:
大功率高亮度发光二极管测试的特点及所面临的挑战展开讨论, 帮助您应对HBLED电气测试挑战，优化特性分析和测试，降低测试成本，提高产品良率。

通过参加此研讨会,您将了解和理解：
> LED自发热效应以及如何避免自发热效应
> 如何花费更少的时间与资源开发测试系统
> 如何提高测试速度快速完成VF, VR和IL等典型参数测试
> 如何降低电源噪声、测量噪声等系统噪声的影响
> 如何降低投资成本
> 如何进行结温测试
> 其他LED测试解决方案,如LED并行测试，生产测试等

中奖名单
MyGrow、lifugan、枫之精、龙舞醇香、风云12345、stu_deepblue、zhangjsh、linghz、yefengling、cxj8586、ezcui、dongdeisheqi、一九八八、ling200602
、mylxc60、zsd1107、maoshen、pingpindandan、pj4276、wq1134404729wq

作为研发工程师，您在日常工作中是否会涉及温度检测或热分析？用点温？数采?还是红外热像仪？或者，您的工作表面看起来与温度检测毫无关系，但通过温度的分析，可以使研究项目中遇到的问题迎刃而解，关键是如何将这些问题与表面的温度分析关联起来。
Fluke 红外热像产品可以给研究人员分析表面温度提供有力工具，红外热像图中颜色差异表示温度的高低，而且通过标准配置的专用软件，可以对热像图进行逐点解读温度数据，并生成数据报告或温度曲线，为研究项目带来便利，取得事半功倍的效果。

本次研讨会，Fluke将与您分享：
1、如何检测像头发丝一样细的被测目标
2、如何在真空环境的加热内部进行检测
3、空间温度分布应该如何进行检测？
4、其他有关产品研发、品质管理、热分析，全套红外解决方案